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PCT解决方案

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    PCT解决方案

          移动通信演进到LTE-Advanced,主流通信制式已达到七种,多种制式并存已成为电信运营的主流。在这种网络环境下,终端必须同时支持多种通信制式和频段。为了推动多模多频芯片和终端的开发测试,帮助认证机构和运营商提高终端测试质量和效率,大唐联仪以ECT7310平台为基础,推出支持LTE-A、LTE、WCDMA、TD-SCDMA、GMS的全面PCT测试解决方案,该方案已通过GCF、PTCRB等组织的认证,认证平台号为TP144平台。

      该解决方案广泛使用在终端入网测试、入库测试、芯片预测试等多种场合.

     

    该解决方案的系统结构如下:

    PCT解决方案支持的测试能力如下:

    TD-SCDMA单模协议测试解决方案

    覆盖TD-SCDMA单模协议一致性测试的全部TCG认证用例,可同时支持4个激活小区,支持A+F+E频段。

    TD-LTE单模协议测试解决方案

    覆盖TD-LTE单模协议一致性测试的全部GCF认证用例,可同时支持4个激活小区,支持频段为band38band39band40band41

    LTE FDD单模协议测试解决方案

    覆盖LTE FDD单模协议一致性测试的全部GCF认证用例,可同时支持4个激活小区,支持频段为band20band07band04band03band01;并可扩展支持测试其他全部LTE FDD频段用例

    LTE-A单模协议测试解决方案

    覆盖LTE-A单模协议一致性测试的全部GCF认证用例,可同时支持4个激活小区,支持频段为band38band39band40band41E39-E41E03-E07E03-E20E07-E20

    TD-SCDMA/GSM 双模互操作协议测试解决方案

    覆盖TD-SCDMAGSM互操作的全部TCG认证测试用例,支持TD-SCDMA /GSM,小区重选等测试例。

    TD-LTE/TD-SCDMA双模互操作协议测试解决方案

    覆盖TD-LTETD-SCDMA互操作的全部GCF认证测试用例,支持TD-LTE/TD-SCDMA小区重选以及CSFB等测试例。

    TD-LTE/GSM双模互操作协议测试解决方案

    覆盖TD-LTEGSM互操作的全部GCF认证测试用例,支持TD-LTE/GSM小区重选以及CSFB等测试例。

    TD-LTE/LTE FDD双模互操作协议测试解决方案

    覆盖TD-LTELTE FDD互操作的全部GCF认证测试用例,支持TD-LTE/LTE FDD小区重选等测试例。

    TD-LTE/TD-SCDMA/GSM多模互操作协议测试解决方案

    覆盖TD-LTETD-SCDMAGSM互操作的全部GCF认证测试用例支持TD-LTE/TD-SCDMA/GSM小区重选以及CSFB等测试例。

    LTE FDD/WCDMA多模互操作协议测试解决方案

    覆盖LTE FDDWCDMA互操作的全部GCF认证测试用例,支持WCDMALTE FDD小区重选以及CSFB等测试例。

    TD-LTE/WCDMA多模互操作协议测试解决方案

    覆盖TD-LTEWCDMA互操作的全部GCF认证测试用例,支持WCDMATD-LTE小区重选以及CSFB等测试例。

    LTE FDD/GSM多模互操作协议测试解决方案

    覆盖LTE FDDGSM互操作的全部GCF认证测试用例。支持LTE FDDGSM小区重选以及CSFB等测试例。

    LTE FDD/WCDMA/GSM多模互操作协议测试解决方案

    覆盖LTE FDDWCDMAGSM互操作的全部GCF认证测试用例。支持LTE FDDWCDMAGSM小区重选以及CSFB等测试例。

    TD-LTE/LTE FDD互操作协议测试解决方案

    覆盖TD-LTELTE FDD互操作的全部GCF认证测试用例。

    MDT协议测试解决方案

    覆盖LTE单模及互操作中,全部MDTGCF认证测试用例

    IMSVOLTE)协议测试解决方案

    覆盖IMS基本信令流程、SMS、紧急呼叫、SSAC、互操作的全部GCF认证测试用例

    ASRVCC协议测试解决方案

    覆盖ASRVCC全部GCF认证测试用例

     

  • PCT解决案例

    PCT案例 :

     


      应用于中国移动终端公司终端入库测试;

    应用于中国联通终端入库测试;

    应用于泰尔终端实验室终端入网测试;

    应用于QUALCOMM芯片预测试及研发测试;

    应用于MTK芯片预测试及研发测试

    应用于展讯芯片预测试及研发测试

    应用于MAVRELL芯片预测试及研发测试

    应用于联芯芯片预测试及研发测试

    应用于INTEL芯片预测试及研发测试

    应用于海思芯片预测试及研发测试

    应用于三星半导体芯片预测试及研发测试

    应用于HTC终端预测试及研发测试

    应用于三星终端的终端预测试及研发测试

    应用于华为的终端预测试及研发测试

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