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大唐联仪成功举办“4G终端测试研讨会”

大唐联仪成功举办“4G终端测试研讨会2014-8-5

2014年6月29日,工信部批准中国电信和中国联通在16城市开展TDD/FDD LTE混合组网试验,标志着4G终端发展全面进入快速发展通道。
       在国内三大运营商的积极推动下,4G终端将迎来井喷式增长,预计全年出货量将达到1.9亿。4G LTE多模多频芯片和智能终端大量上市,将带来终端芯片研发如何准确把握和满足运营商及市场需求的挑战,同时还面临终端芯片量产带来的测试效率和测试成本的挑战,由此也将有力刺激终端测试仪表产业发展。
       为了更好地了解终端认证、研发和生产对测试仪表的需求,满足4G终端发展对测试仪表的需求,2014年8月1日,大唐联仪在深圳举办了“4G终端测试研讨会”。
       本次研讨会特别邀请了国家无线电监测中心、泰尔终端实验室、联发科、宇龙酷派、大友智造等行业专家,对4G终端型号核准检测需求、4G终端入网测试需求、4G终端芯片发展及对测试的需求、4G终端生产测试需求、4G终端综合测试最新技术进展等议题展开了深入的交流研讨。
       除了议题演讲外,现场还展示了全系列综测仪产品,包括四端口综测仪CTP3110、十六端口综测仪CTP3316等。其中十六端口综测仪CTP3316作为生产测试用表,支持四通道并行测试、乒乓测试等特性,可显著提升生产测试效率、降低测试成本。 
       在4G大规模量产之际,大唐联仪成功举办“4G终端测试研讨会”将有助于解决终端厂家在研发、认证、生产等各环节的测试难题,推动我国4G终端产业更快更好地发展。

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