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LTE终端测试应用方案研讨会成功举办

     LTE终端测试应用方案研讨会成功举办(2013-12-11

  随着20131244G牌照的发放,LTE商用大幕正式开启, 4G时代到来。在4G时代,2G3G4G长期并存已经成为业界共识,LTE终端要支持多模多频成为三大运营商的基本要求。由此也给终端研发、测试、生产带来了巨大挑战。如何发挥协同效应、从容应对这种挑战,就成为仪表、芯片、终端研发、生产厂商等终端产业链各环节共同的目标。
       
为汇聚行业智慧,作为领先的LTE终端解决方案提供商,大唐联仪于2013126日在上海成功举办 “LTE终端测试应用方案研讨会,共商应对LTE多模多频终端测试的挑战大计。本次研讨会特别邀请了工信部电信研究院、大唐电信科技产业集团、联芯科技、大唐联仪和业内的专家做分享。与会嘉宾覆盖了以上海为中心的华东主要的品牌、方案、EMS厂商。研讨会分别就LTE终端入库测试要求、LTE国内外标准、产业发展最新状态和趋势,LTE一致性测试、终端研发、生产应用测试方案与业内芯片、终端厂商的技术方案,展开全面、深入的交流。
       
除主题演讲外,研讨会现场还演示了大唐联仪针对LTE多模多频终端量身定制的系列测试解决方案: ECT7310终端协议一致性测试系统;CTP3110针对LTE多模多频终端的研发、生产应用测试等,覆盖芯、终端开发、生产,认证测试、运营商入库测试等主要内容。
       
会议内容新颖,信息量大,让客户切身感受并体验到了业界领先的LTE测试解决方案,得到了与会嘉宾的高度认可。大唐联仪将紧贴客户需求,不断推陈出新,通过为客户提供量身定制的测试解决方案来快速化解LTE时代带来的各种挑战。


 

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